安捷伦4155B半导体参数分析仪

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 VF

采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMUsSS

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量：60μs – 可变间隔，最多 10,001 个点E

易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能

自动化：内置 HP Instrument BASIC，触发 I/O 功能

Agilent 4155B 半导体参数分析仪是一种独立仪器，能够对半导体器件和材料进行完整的直

流表征。它刺激电压和电流敏感设备，测量产生的电流和电压响应，并在内置 CRT 显示器上

以用户可选择的格式（图形、列表、矩阵或 schmoo）显示结果。