低压朔壳断路器,在额定短路分断能力测试时试品外壳碎裂
huadianvep
huadianvep Lv.3
2009年06月15日 14:21:10
来自于断路器
只看楼主

低压朔壳断路器,在额定短路分断能力测试时试品外壳碎裂??谁能分析一下什么原因?谢谢!

低压朔壳断路器,在额定短路分断能力测试时试品外壳碎裂??
谁能分析一下什么原因?谢谢!
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mao6744223
2009年06月15日 15:03:38
2楼
个人认为:
塑壳断路器在 额定短路分断能力试验的时候,特别是极限分断,例如Icu=30kA,在不小于1.05倍的额定电压下,触头分断的瞬间,由于燃弧,在塑料外壳内造成温度短时迅速升高,形成一个小爆炸气浪。如果,触头分断慢,造成持续燃弧,那么爆炸会很强。也就有可能造成你说的 ,外壳破碎。你可以看一下实验的示波图,看看通电时间,燃弧时间,以及焦耳积分,如果分断时间的通电时间比较长,燃弧时间长,相应的焦耳积分就比较大,那么造成外壳破碎,这就是直接原因。
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huadianvep
2009年06月15日 22:54:59
3楼
不知道你能不能留下个联系方式,我与你好好讨论一下!!
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ccc678
2009年06月16日 07:46:09
4楼

说的好,学习了。
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